醫(yī)學(xué)教育網(wǎng)小編整理了“x-S質(zhì)控圖”相關(guān)知識供大家參考學(xué)習(xí)，希望對大家有所幫助！

Henry和Segalove對X－R質(zhì)控圖進(jìn)行了修改，他們以20次質(zhì)控物的單次測定結(jié)果，計算其x及標(biāo)準(zhǔn)差（s），以x±2S為警告限，以x±3S為失控限，這也就是現(xiàn)在廣為應(yīng)用的Levey-Jennings質(zhì)控圖，從質(zhì)控圖的體系來說，它屬于單值質(zhì)控圖中的x-S質(zhì)控圖。這個質(zhì)控圖適用于質(zhì)控數(shù)據(jù)取得需要較長周期或費用昂貴時，其方法比較簡單，易于推廣。實際上這兩種質(zhì)控圖的檢定力是不同的，原Levey-Jennings質(zhì)控圖優(yōu)于用單次測定結(jié)果繪制的質(zhì)控圖，且提供了更多的質(zhì)量信息。這個質(zhì)控圖不僅存在著檢出失控能力（檢定力）較差的缺點，同時如果測定數(shù)據(jù)不呈正態(tài)分布，產(chǎn)生假失控的概率就會增大，造成誤判失控的可能性增加。