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X線頭影測量的定義及應(yīng)用

X線頭影測量主要是測量X線頭顱定位照像所得的影像,對牙頜、顱面各標(biāo)志點(diǎn)描繪出一定的線角進(jìn)行測量分析,從而了解牙頜、顱面軟硬組織的結(jié)構(gòu),使對牙頜、顱面的檢查、診斷由表面形態(tài)深入到內(nèi)部的骨骼結(jié)構(gòu)中去醫(yī)`學(xué)教育網(wǎng)搜集整理。

主要應(yīng)用:1.研究顱面生長發(fā)育;2.牙頜、顱面畸形的診斷分析;3.確定錯畸形的矯治設(shè)計;4.研究矯治過程中及矯治后的牙頜、顱面形態(tài)結(jié)構(gòu)變化;5.外科正畸的診斷和矯治設(shè)計;6.下頜功能分析。

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